偏光應力儀可對透明及弱色材料的雙折射率進行檢測，并通過Senarmont補償法精確計算出光程誤差不超過10nm的雙折射率的值。并通過偏振光對雙折射率的分布進行檢測分析。折射率的分布和大小直接反應出材料應力的分布與大小。
 

　　偏光應力儀的適用范圍：
 

　　l 適合于檢測燈等有復雜構造的產(chǎn)品。
 

　　l 檢測高密度的塑料產(chǎn)品，如隱形眼鏡等。
 

　　l 檢測光學晶體，如氟化鈣(螢石)等。
 

　　偏光應力儀的檢測方法：
 

　　1. Crossed Nicols 觀測法
 

　　2.Sensitive Color Method 感光色檢測法
 

　　3. SenarmonMethod 補償法
 

　　Senarmont補償法可以進行應力定量分析檢測。打開電源，未放樣品整個視野范圍是黑褐色的，放入樣品，不旋轉檢偏鏡，觀測出較亮點即為應力較大點。旋轉檢偏鏡上的刻度盤，直至較亮點變成黑褐色，記錄此時刻度盤旋轉的角度及該點的厚度，即可用公式換算出應力值。
 

　　計算公式：標準光延遲nm/mm=(3.14nm*檢偏鏡旋轉角度)/被測點的厚度mm
 

　　應力Mpa=光程差nm/(被測點的光路長cm * 光彈系數(shù)(nm/cm/Mpa))